Etkinlik Takvimi

Ayrıntılı Ders Programı: 

• 1. GÜN (27.10.2022 Perşembe)
• 2. GÜN (28.10.2022 Cuma)
• 3. GÜN (29.10.2022 Cumartesi)
• 4. GÜN (30.10.2022 Pazar)

<

>

09:00 - 09:45	DERS ADI: Açılış Dersi​ DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN DERS KONUSU: Açılış, Tanışma, etkinliğin önemi, bilim dünyasındaki yeri, program hakkında bilgilendirme. DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Etkinlik açılışının yapılması, Katılımcılarla tanışma, etkinliğin önemi ve programın  akışı hakkında bilgilendirme yapılarak katılımcıların dersleri daha bilinçli bir şekilde takib etmelerini ve azami olarak faydalanmalarını sağlamak.
09:55 - 10:40	DERS ADI: X-Işınlarına Giriş DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN DERS KONUSU: X-ışınlarının keşfi, tanımı, oluşumu ve X-ışını kaynakları. DERS KONUSU: X-ışınlarının keşfi, tanımı, oluşumu ve X-ışını kaynakları.
​10:50 - 11:35	DERS ADI: X-ışınlarının Madde ile Etkileşmesi DERS KONUSU: X-ışınlarının keşfi, tanımı, oluşumu ve X-ışını kaynakları DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN ​DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışınlarının parçacık ve dalga özelliği, saçılma, soğurulma, kırınım ve yansıma.
11:45 - 12:30	DERS ADI: X-Işını Dedektörleri ve XRF Spektrometreleri-I​ DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN DERS KONUSU: X-ışınlarının dedeksiyonu, X-ışınları dedektörleri, rezolüsyon ve verim. DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yarıiletken dedektörler ve diğerleri, dedektör-kryostat-önamplifikatör sistemi, elektronik elemanlar, EDXRF ve WDXRF dedektörleri rezolüsyon ve verim.

öğle arası

13:30 - 14:15	DERS ADI: X-Işını Dedektörleri ve XRF Spektrometreleri-I​I DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN DERS KONUSU: X-ışınlarının dedeksiyonu, X-ışınları dedektörleri, rezolüsyon, verim. DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yarıiletken dedektörler ve diğerleri, dedektör-kryostat-önamplifikatör sistemi, elektronik elemanlar, EDXRF ve WDXRF dedektörleri, rezolüsyon ve verim
14:25 - 15:10	DERS ADI: XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz-I DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU DERS KONUSU: Kalitatif, kantitatif ve yarı-kantitatif analiz nedir? Nasıl yapılır? DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Flüoresans Spektroskopisinde ölçüm sonuçlarının ele alınması, kalitatif, kantitatif ve yarı-kantitatif analizler hakkında (uygulama örnekleri ile) bilgilendirme ve dikkat edilecek hususlar.
15:20 - 16:05	DERS ADI: XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz-II DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU DERS KONUSU: Kalitatif, kantitatif ve yarı-kantitatif analiz nedir? Nasıl yapılır? DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Flüoresans Spektroskopisinde ölçüm sonuçlarının ele alınması, kalitatif, kantitatif ve yarı-kantitatif analizler hakkında (uygulama örnekleri ile) bilgilendirme ve dikkat edilecek hususlar.
16:15 - 17:00	​DERS ADI: XRF Analizlerinde Kalite Kontrol DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU DERS KONUSU: XRF analizlerinde kalite kontrol süreci nasıl ele alınır? DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Flüoresans Spektroskopisinde analiz sonuçlarının doğruluğu için iç ve dış kalite kontrol kavramları, sertifikalı referans malzeme, vb. hakkında örnekli anlatım.

09:00 - 09:45	​​DERS ADI: Flöresans Şiddet ve Kantitatif analiz Metotları, Matris Kavramı ve Girişim Etkileri DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Demet YILMAZ DERS KONUSU: Flöresans şiddet ve kantitatif analiz metotları, Matris Kavramı ve Girişim Etkileri DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Flöresans şiddet ifadesinin elde edilmesi, bağlı olduğu parametreler, standart ilave, seyreltme, saçılan x-ışınları ile standartizasyon ve ince film  metotlarının kantitatif analizlerde kullanımı, Matris Kavramı ve Girişim Etkileri.
09:55 - 10:40	DERS ADI: Sayma İstatistiği, Doğruluk, Hassaslık ve Dedeksiyon Limiti DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Demet YILMAZ DERS KONUSU: Ölçme limitleri ve güvenilirlik DETAYLI DERS İÇERİĞİ: XRF’de hata kaynakları, sayma istatistiği,  kullanışlılık şekli (figure of merit), doğruluk ve hassasiyet.
​10:50 - 11:35	DERS ADI: XRF Analizleri için Numune Geometrisinin Önemi ve Numune Hazırlama Prosedürleri DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Demet YILMAZ DERS KONUSU: Ölçüm sistemleri için numune geometrisinin önemi ve numune hazırlama prosedürleri DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Numune geometrisi nedir? XRF ölçümlerinde numune geometrisinin önemi, numune hazırlama teknikleri, katı, sıvı ve gaz numunelerle çalışmak, kullanılan sarf malzemeler, kullanılan referans malzemeler.
11:45 - 12:30	DERS ADI: Özel XRF Konfigürasyonları ve İlgili Teknikler DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL DERS KONUSU: Amaca uygun özel XRF konfigürasyonları ve ilgili teknikler DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Soğurma Spektroskopisi: EXAFS ve XANES; Microbeam XRF Spectrometry, Synchrotron radyasyonu ve XRF Uygulamaları; elektron indüklenmiş X-ışını emisyon spektrometresi.

öğle arası

13:30 - 14:15	DERS ADI: Temel Parametreler Yöntemi  ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz (Uygulamalı) - I DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL DERS KONUSU: Temel parametreler yöntemini kullanan AXIL ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz DETAYLI DERS İÇERİĞİ:  XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz.
14:25 - 15:10	DERS ADI: Temel Parametreler Yöntemi  ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz (Uygulamalı) - II DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL DERS KONUSU: Temel parametreler yöntemini kullanan AXIL ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz DETAYLI DERS İÇERİĞİ:  XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz.
15:20 - 16:05	DERS ADI: X-Işınları Kırınım Tekniği DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ferhat ASLAN DERS KONUSU: X-ışınları kırınım tekniğinin öğretilmesi, kullanım amaçları, Kırınım metotları DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işınları kırınımı, XRD tekniği ve bileşenleri, X-ışınları kırınımı tekniğinin kullanıldığı yerler nerelerdir? Hangi amaçla kullanılabilir? XRD ölçüm sistemine örnek hazırlama vb. Kırınım metodları, ideal olmayan şartlar altında kırınım, Laue ve Bragg Kırınımı, elektrondan saçılma, yapı faktörü, kırınım şiddeti.
16:15 - 17:00	DERS ADI: Toz Kırınım Yöntemi DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE DERS KONUSU: Toz Kırınım Metodları DETAYLI DERS İÇERİĞİ:  Bragg Yasası, Ewald küresi, X-ışını Radyasyonunun Kaynakları, X- Işını Optiği, X-ışını Dedektörleri, Laboratuvar Enstrümantal Konfigürasyonları, Bragg Yansımasının şiddeti, bir atomdan saçılma, birim hücreden saçılma, polikristal bir tozdan saçılma.

09:00 - 09:45	DERS ADI: Toz Kırınım Yöntemi ile Yapısal Karakterizasyon​ DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN DERS KONUSU: Toz kırınım yöntemi DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışını kırınımının uygulamaları, örneğin hazırlanması, toz Kırınım deseninin alınması, difraktometre ölçümü ve desen indeksleme.
09:55 - 10:40	​DERS ADI: Rietveld Arıtımı DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN DERS KONUSU: Rietveld arıtımı ve  yapı çözümü DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Rietveld arıtımının genel tanımı ve Rietveld arıtımı ile yapı çözümü.
​10:50 - 11:35	DERS ADI: Residual Stress Analizi DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN DERS KONUSU: Rietveld arıtımı ve yapı çözümü DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Artık gerilme nedir? Artık gerilmenin genel olarak tanımlanması, örnek hazırlanması ve artık gerilme analizi.
11:45 - 12:30	DERS ADI: Tek Kristal X-ışını Kırınımı I DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE DERS KONUSU: X-ışını kırınımı DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kristal yapı ve tek kristal, kristal örgünün belirlenmesi için tek kristal seçimi, X-Işını difraktometresinde tek kristalden verilerin toplanması, toplanan verilerin analizi için kullanılan programlar.

öğle arası

13:30 - 14:15	DERS ADI: Tek Kristal X-Işını Kırınımı ile Yapı Çözümü I (Bilgisayar Uygulamalı) DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE DERS KONUSU: Tek kristal yapı çözümünde programların kullanımı DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kristal yapının çözümünde WinGx, Olex2, Shelx, platon ve Pars programlarının kullanılması.
14:25 - 15:10	DERS ADI: Tek Kristal X-Işını Kırınımı ile Yapı Çözümü II (Bilgisayar Uygulamalı) DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE DERS KONUSU: Tek kristal yapı arıtımında programların kullanımı DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Tek krstal yapı arıtımı ve kristal şekillerinin çizimi için ORTEP, Mercury ve Crystal Explorer programlarının kullanımı.
15:20 - 16:05	DERS ADI: Yapısı çözülen tek kristalin kristalografik değerlerinin  yayına hazırlanması (Bilgisayar Uygulamalı) DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE DERS KONUSU: Yapısı çözülen kristalden elde edilen sonuçların yayına hazırlanması DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yapısı çözülen tek kristalden elde edilen sonuçların yayınlanması için kristalografik kriterlere uygunluğunun değerlendirilmesi. Cif dosyasının hazırlanması, CCDC numarasının alınması, encifer ve publcif programlarının kullanımı.
16:15 - 17:00	DERS ADI: X-Işını Yansıtıcılık Analizi DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ferhat ASLAN DERS KONUSU: İnce film kalınlık, yoğunluk ve pürüzlülük tayini DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışınları için ince filmlerin kritik açısının belirlenmesi, kritik açının ince film yoğunluğu ile ilşkisi, farklı açılarda oluşan girişim deseninden film kalınlığının elde edilmesi, açılara bağlı olarak elde edilen girişim desenin eğimi ile yüzey pürüzlülüğü arasındaki ilişki.

09:00 - 09:45	​DERS ADI: X-Işını Saçılma Yöntemleri ve Deney sistemleri (Uygulamalı) DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE DERS KONUSU: Saçılma Deney Sistemleri, SAXS, WAXS ve GISAXS, Nanoyapılı Farklı Malzemeler için Guinier Analizi DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yöntemlerle ilgili temel bilgiler, Çalışılabilecek örnek formları ve özellikleri, SAXS, WAXS ve GISAXS deney donanımlarının temel elemanları,  Guinier Bölgesi verileri kulanılarak yapılan öncü veri analizleri, SR SAXS demet hatlarının, Laboratuvar deney donanımlarından farkının vurgulanması, dinamik ölçümler için yan donanımların kullanımları ve avantajları, Farklı formda örnekler için setup yenileme ve kurulum çalışmaları, Üç farklı yöntem için uygun detektör sistemleri.
09:55 - 10:40	DERS ADI: X-Işını Saçılma Yöntemlerinin Displinlerarası Uygulamaları DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE DERS KONUSU: X-ışını saçılma yöntemlerinin uygulamaları DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kimya, Fizik, Biyoloji temelli uygulamalar, Eczacılık, tıp, gıda, yer bilimleri, malzeme ve çevre bilimleri v.b. ile ilgili uygulamalar.
​10:50 - 11:35	DERS ADI: Nanoyapılı Malzemelerin Ar-Ge Çalışmalarında Kullanılan X-Işını Yöntemleri DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE DERS KONUSU: Nanoyapılı malzemelerde X-ışınları DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Teknoloji ve endüstri hedefli Ar-Ge faaliyetleri, Yapı-özellik ilişkilerinin uygulamaya yönelik kullanımları ve faydaları, Birbirini tamamlayıcı, sınayıcı ve destekleyici bilgiler içeren diğer X-ışını yöntemlerinin (XRF, Tomografi, Topografi,  EXAFS, XANES v.b.) sağladıkları bilgilerin ortak yorumları.
11:45 - 12:30	DERS ADI: 3B Yapı Analizlerinde Kullanılan X-ışını Analiz Yöntemleri DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE DERS KONUSU: 3B yapı analizleri için kullanılan teknikler ve virüslerin yapı analizleri DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Canlılar için önemli olan en masum virüslerden, biyolojik silah olma potansiyeline sahip olan en tehlikelilerine kadar çeşitli virüslerin yapıları ve yapı analizleri.

öğle arası

13:30 - 14:15	DERS ADI: XPS-I DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Emre GÜR DERS KONUSU: XPS spektroskopisi DETAYLI DERS İÇERİĞİ: XPS'in temel çalışma prensipleri, Foto-elektron Spektroskopi Analiz Çeşitliliği ve Kullanım Alanları; Analiz Aralığı ve Hassasiyeti.
14:25 - 15:10	DERS ADI: XPS Spektrumu-II DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Emre GÜR DERS KONUSU: XPS'nin temelleri DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Örnek spektrumlar üzerinde tartışma; Belli başlı karakteristik analizler.
15:20 - 16:05	DERS ADI: Günümüz Teknolojileri ve  X-Işınları DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Uğur ÇEVİK DERS KONUSU: Günümüz Teknolojileri ve X-ışınlarının günümüz teknolojileri açısından önemi DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Savunma sanayi, enerji teknolojileri, gıda teknolojileri, ileri malzeme teknolojileri,  nükleer enerji vb. günümüz teknolojileri açısından X-ışınları.
16:15 - 17:00	DERS ADI: Ölçme Değerlendirme DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN DERS KONUSU: Etkinlikle ilgili anket çalışmasının yapılması. Katılımcıların etkinlikle ilgili fikirlerini almak. Geleceğe yönelik çalışma planları konusunda genç araştırmacılara yol göstermek. DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Katılımcıların beklentilerinin ne ölçüde karşılanabildiği üzerine sohbet.  Katılımcıların etkinlik ve konu hakkındaki düşünce, görüş ve ileriye yönelik çalışma planları üzerine fikir alış verişi.