Bilimsel Araştırmalarda X-Işınları Analiz Teknikleri - III (Çevrimiçi)
biXat-2021
-Etkinlik Programı-
biXat-2021
-Etkinlik Programı-
Etkinlik Takvimi
Ayrıntılı Ders Programı:
| 1. GÜN (05/04/2021) Pazartesi |
2. GÜN (06/04/2021) Salı |
3. GÜN (07/04/2021) Çarşamba |
4. GÜN (08/04/2021) Perşembe |
5. GÜN (09/04/2021) Cuma |
|||||
| 09:00 - 09:45 |
DERS ADI: Açılış Dersi | 09:00 - 09:45 |
DERS ADI: XRF Spektroskopisinde Matris Kavramı ve Girişim Etkileri | 09:00 - 09:45 |
DERS ADI: X-ışını Uygulamalarında MCNP 6.2 |
09:00 - 09:45 |
DERS ADI: Rietveld Arıtımı | 09:00 - 09:45 |
DERS ADI: X-Işını Saçılma Yöntemlerinin Displinlerarası Uygulamaları |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Orhan İÇELLİ |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE |
|||||
| DERS KONUSU: Açılış, Tanışma, etkinliğin önemi, bilim dünyasındaki yeri, program hakkında bilgilendirme | DERS KONUSU: Matris kavramı ile girişim etkileri hakkında detaylı bilgi sunulması, matris kilitleme kavramı | DERS KONUSU: Medikal ve endüstriyel uygulamalarda foton atomik parametrelerin stokastik tayini |
DERS KONUSU: Rietveld arıtımı ve yapı çözümü | DERS KONUSU: X-ışını saçılma yöntemlerinin uygulamaları | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Etkinlik açılışının yapılması, Katılımcılarla tanışma, etkinliğin önemi ve programın akışı hakkında bilgilendirme yapılarak katılımcıların dersleri daha bilinçli bir şekilde takib etmelerini ve azami olarak faydalanmalarını sağlamak. | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Matris kavramı ve öneminin EDXRF çalışma örnekleri ile anlatımı, XRF spektroskopisinde girişim etkileri hakkında detaylı bilgi (spektral, çevresel ve matris etkileri) sunulması, matris kilitleme kavramı | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Medikal ve endüstriyel uygulamalara özgü deney ve fantom tasarımı ve ilgili foton atomik parametre tayini |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Rietveld arıtımının genel tanımı ve Rietveld arıtımı ile yapı çözümü |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kimya, Fizik, Biyoloji temelli uygulamalar, Eczacılık, tıp, gıda, yer bilimleri, malzeme ve çevre bilimleri v.b. ile ilgili uygulamalar |
|||||
| ARA | |||||||||
| 09:55 - 10:40 |
DERS ADI: X-Işınlarına Giriş | 09:55 - 10:40 |
DERS ADI: Sayma İstatistiği, Doğruluk ve Hassaslık ve Dedeksiyon Limiti | 09:55 - 10:40 |
DERS ADI: X-ışını Uygulamalarında bilişim uygulamaları BXCOM, ZXCOM, DXCOM |
09:55 - 10:40 |
DERS ADI: Residual Stress Analizi | 09:55 - 10:40 |
DERS ADI: Nanoyapılı Malzemelerin Ar-Ge Çalışmalarında Kullanılan X-Işını Yöntemleri |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Demet YILMAZ |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Orhan İÇELLİ |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE |
|||||
| DERS KONUSU: X-ışınlarının keşfi, tanımı, oluşumu ve kaynakları |
DERS KONUSU: Ölçme limitleri ve güvenilirlik | DERS KONUSU: X-ve gama bölgesinde ilgili yazılım programları ile foton atomik parametrelerin tayini |
DERS KONUSU: Rietveld arıtımı ve yapı çözümü | DERS KONUSU: Nanoyapılı malzemelerde X-ışınları |
|||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışınlarının keşfi, X-ışınlarının tanımı, X-ışınlarının oluşumu ve X-ışınları kaynakları |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: XRF’de hata kaynakları, sayma istatistiği, kullanışlılık şekli (figure of merit), doğruluk ve hassasiyet. | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Foton atomik parametrelerin deneysel çalışmalar öncesi uygun geometri ve numune seçimi, hassas geometri tayini için ilgili yazılımsal programlarla çözüm geliştirmek. | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Artık gerilme nedir? Artık gerilmenin genel olarak tanımlanması, örnek hazırlanması ve artık gerilme analizi |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Teknoloji ve endüstri hedefli Ar-Ge faaliyetleri, Yapı-özellik ilişkilerinin uygulamaya yönelik kullanımları ve faydaları, Birbirini tamamlayıcı, sınayıcı ve destekleyici bilgiler içeren diğer X-ışını yöntemlerinin (XRF, Tomografi, Topografi, EXAFS, XANES v.b.) sağladıkları bilgilerin ortak yorumları | |||||
| ARA | |||||||||
| 10:50 - 11:35 |
DERS ADI: X-Işınlarının Madde ile Etkileşmesi | 10:50 - 11:35 |
DERS ADI: Flöresans Şiddet ve Kantitatif analiz Metotları | 10:50 - 11:35 |
DERS ADI: X-Işını Uygulamalarında FUZZY (Bulanık mantık) | 10:50 - 11:35 |
DERS ADI: Tek Kristal X-ışını Kırınımı I |
10:50 - 11:35 |
DERS ADI: 3B Yapı Analizlerinde Kullanılan X-ışını Analiz Yöntemleri - I |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Demet YILMAZ |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Orhan İÇELLİ |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE |
|||||
| DERS KONUSU: X-ışınlarının madde ile etkileşmesi |
DERS KONUSU: Flöresans şiddet ve kantitatif analiz metotları |
DERS KONUSU: Fuzzy | DERS KONUSU: X-ışını kırınımı | DERS KONUSU: 3B yapı analizleri için kullanılan teknikler ve virüslerin yapı analizleri | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışınlarının parçacık ve dalga özelliği, saçılma, soğurulma, kırınım ve yansıma | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Flöresans şiddet ifadesinin elde edilmesi, bağlı olduğu parametreler, standart ilave, seyreltme, saçılan x-ışınları ile standartizasyon ve ince film metotlarının kantitatif analizlede kullanımı | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Stokastik ve deneysel hesapların makine öğrenmesi ve örnek uygulamaları, |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kristal yapı ve tek kristal, kristal örgünün belirlenmesi için tek kristal seçimi, X-Işını difraktometresinde tek kristalden verilerin toplanması, toplanan verilerin analizi için kullanılan programlar. |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Canlılar için önemli olan en masum virüslerden, biyolojik silah olma potansiyeline sahip olan en tehlikelilerine kadar çeşitli virüslerin yapıları ve yapı analizleri | |||||
| ARA | |||||||||
| 11:45 - 12:30 |
DERS ADI: X-Işınları Dedeksiyonu ve XRF Dedektör Sistemleri Rezolüsyon ve Verim |
11:45 - 12:30 |
DERS ADI: XRF Analizleri için Numune Geometrisinin Önemi ve Numune Hazırlama Prosedürleri | 11:45 - 12:30 |
DERS ADI: X-Işını Uygulamalarında ANFIS (Yapay Zeka Uygulamaları) | 11:45 - 12:30 |
DERS ADI: Tek Kristal X-Işını Kırınımı ile Yapı Çözümü I (Bilgisayar Uygulamalı) | 11:45 - 12:30 |
DERS ADI: 3B Yapı Analizlerinde Kullanılan X-ışını Analiz Yöntemleri - II |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Uğur ÇEVİK |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Orhan İÇELLİ |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE |
|||||
| DERS KONUSU: X-ışınlarının dedeksiyonu, X-ışınları dedektörleri, rezolüsyon, verim vb. |
DERS KONUSU: Ölçüm sistemleri için numune geometrisinin önemi ve numune hazırlama prosedürleri | DERS KONUSU: ANFIS | DERS KONUSU: Tek kristal yapı çözümünde programların kullanımı | DERS KONUSU: 3B yapı analizleri için kullanılan teknikler ve virüslerin yapı analizleri | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yarıiletken dedektörler ve diğerleri, dedektör-kryostat-önamplifikatör sistemi, elektronik elemanlar, EDXRF ve WDXRF dedektörleri rezolüsyon ve verim | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Numune geometrisi nedir? XRF ölçümlerinde numune geometrisinin önemi, numune hazırlama teknikleri, katı, sıvı ve gaz numunelerle çalışmak, kullanılan sarf malzemeler, kullanılan referans malzemeler | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Örnek uygulamalarla X- ve gama bölgesinde ANFIS uygulamaları ve örnek çözümler |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kristal yapının çözümünde WinGx, Olex2, Shelx, platon ve Pars programlarının kullanılması | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Canlılar için önemli olan en masum virüslerden, biyolojik silah olma potansiyeline sahip olan en tehlikelilerine kadar çeşitli virüslerin yapıları ve yapı analizleri | |||||
| ÖĞLE ARASI | |||||||||
| 13:30 - 14:15 | DERS ADI: X-Işınları Dedeksiyonu ve XRF Dedektör Sistemleri Rezolüsyon ve Verim |
13:30 - 14:15 | DERS ADI: Temel Parametreler Yöntemi ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz (Uygulamali)- I | 13:30 - 14:15 |
DERS ADI: X-Işınları Kırınım Tekniği | 13:30 - 14:15 |
DERS ADI: Tek Kristal X-Işını Kırınımı ile Yapı Çözümü II (Bilgisayar Uygulamalı) | 13:30 - 14:15 |
DERS ADI: XPS-I |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Uğur ÇEVİK |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Ferhat ASLAN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Emre GÜR |
|||||
| DERS KONUSU: X-ışınlarının dedeksiyonu, X-ışınları dedektörleri, rezolüsyon, verim vb. |
DERS KONUSU: Temel parametreler yöntemini kullanan AXIL ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz | DERS KONUSU: X-ışınları kırınım tekniğinin öğretilmesi ve kullanım amaçları | DERS KONUSU: Tek kristal yapı arıtımında programların kullanımı | DERS KONUSU: XPS spektroskopisi | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yarıiletken dedektörler ve diğerleri, dedektör-kryostat-önamplifikatör sistemi, elektronik elemanlar, EDXRF ve WDXRF dedektörleri rezolüsyon ve verim | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işınları kırınımı, XRD tekniği ve bileşenleri, X-ışınları kırınımı tekniğinin kullanıldığı yerler nerelerdir? Hangi amaçla kullanılabilir? XRD ölçüm sistemine örnek hazırlama vb. | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Tek krstal yapı arıtımı ve kristal şekillerinin çizimi için ORTEP, Mercury ve Crystal Explorer programlarının kullanımı | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: XPS'in temel çalışma prensipleri, Foto-elektron Spektroskopi Analiz Çeşitliliği ve Kullanım Alanları; Analiz Aralığı ve Hassasiyeti; | |||||
| ARA | |||||||||
| 14:25 - 15:10 |
DERS ADI: XRF Analizlerinde Kalite Kontrol | 14:25 - 15:10 |
DERS ADI: Temel Parametreler Yöntemi ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz (Uygulamali) - II | 14:25 - 15:10 |
DERS ADI: Toz Kırınım Yöntemi I | 14:25 - 15:10 |
DERS ADI: Yapısı çözülen tek kristalin kristalografik değerlerinin yayına hazırlanması (Bilgisayar Uygulamalı) | 14:25 - 15:10 |
DERS ADI: XPS Spektrumu-II |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Necmi DEGE |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Emre GÜR |
|||||
| DERS KONUSU: XRF analizlerinde kalite kontrol süreci nasıl ele alınır? | DERS KONUSU: Temel parametreler yöntemini kullanan AXIL ile Kalitatif ve Kantitatif Analiz | DERS KONUSU: Kırınım metotları | DERS KONUSU: Yapısı çözülen kristalden elde edilen sonuçların yayına hazırlanması | DERS KONUSU: XPS'nin temelleri | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Flüoresans Spektroskopisinde analiz sonuçlarının doğruluğu için iç ve dış kalite kontrol kavramları, sertifikalı referans malzeme, vb. hakkında örnekli anlatım | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kırınım metodları, ideal olmayan şartlar altında kırınım, Laue ve Bragg Kırınımı, elektrondan saçılma, yapı faktörü, kırınım şiddeti, toz kırınım metodları | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yapısı çözülen tek kristalden elde edilen sonuçların yayınlanması için kristalografik kriterlere uygunluğunun değerlendirilmesi. Cif dosyasının hazırlanması, CCDC numarasının alınması, encifer ve publcif programlarının kullanımı | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Örnek spektrumlar üzerinde tartışma; Belli başlı karakteristik analizler | |||||
| ARA | |||||||||
| 15:20 - 16:05 |
DERS ADI: XRF'te Kalitatif ve Kantitatif Analiz | 15:20 - 16:05 |
DERS ADI: X-Işınlarının Saçılması ve Compton Saçılması ile Elektron Momentum Dağılımlarının Hesaplanması (Bilgisayar Uygulamalı) | 15:20 - 16:05 |
DERS ADI: Toz Kırınım Yöntemi II | 15:20 - 16:05 |
DERS ADI: X-Işını Saçılma Yöntemleri ve Deney sistemleri |
15:20 - 16:05 |
DERS ADI: X-Işını Yansıtıcılık Analizi |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Ferhat ASLAN |
|||||
| DERS KONUSU: Kalitatif, kantitatif ve yarı-kantitatif analiz nedir? Nasıl yapılır? | DERS KONUSU: Compton profili spektrometresi ve uygulaması |
DERS KONUSU: Kırınım metotları | DERS KONUSU: Saçılma Deney Sistemleri | DERS KONUSU: İnce film kalınlık, yoğunluk ve pürüzlülük tayini | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Flüoresans Spektroskopisinde ölçüm sonuçlarının ele alınması, kalitatif, kantitatif ve yarı-kantitatif analizler hakkında (uygulama örnekleri ile) bilgilendirme ve dikkat edilecek hususlar | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Compton ve koherent saçılma nedir? Compton profili nedir? Compton profilinin ölçümü niçin önemlidir? Hangi bilgiye ulaşmamızı sağlar. Uygulamalı olarak örneklendirme | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Kırınım metodları, ideal olmayan şartlar altında kırınım , Laue ve Bragg Kırınımı, Elektrondan saçılma, Yapı Faktörü, Kırınım Şiddeti, Toz kırınım metodları | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Yöntemlerle ilgili temel bilgiler, Çalışılabilecek örnek formları ve özellikleri, SAXS, WAXS ve GISAXS deney donanımlarının temel elemanları, Guinier Bölgesi verileri kulanılarak yapılan öncü veri analizleri | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışınları için ince filmlerin kritik açısının belirlenmesi, kritik açının ince film yoğunluğu ile ilşkisi, farklı açılarda oluşan girişim deseninden film kalınlığının elde edilmesi, açılara bağlı olarak elde edilen girişim desenin eğimi ile yüzey pürüzlülüğü arasındaki ilişki | |||||
| ARA | |||||||||
| 16:15 - 17:00 |
DERS ADI: Polarize Enerji Dağılımlı XRF Spektrometresi | 16:15 - 17:00 |
DERS ADI: Özel XRF Konfigürasyonları ve İlgili Teknikler | 16:15 - 17:00 |
DERS ADI: Toz Kırınım Yöntemi ile Yapısal Karakterizasyon |
16:15 - 17:00 |
DERS ADI: SAXS, WAXS ve GISAXS | 16:15 - 17:00 |
DERS ADI: Ölçme Değerlendirme |
| DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Mehmet Akif ÇİMENOĞLU |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Ali GÜROL |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Şerife YALÇIN |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Prof. Dr. Semra İDE |
DERS VERECEK ÖĞRETİM ÜYESİ: Doç. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN |
|||||
| DERS KONUSU: Polarize EDXRF spektrometresi ve yeni teknolojiler hakkında anlatım, karşılaşılan spektrumlar hakkında bilgi verilmesi | DERS KONUSU: Amaca uygun özel XRF konfigürasyonları ve ilgili teknikler |
DERS KONUSU: Toz kırınım yöntemi | DERS KONUSU: SAXS, WAXS ve GISAXS | DERS KONUSU: Etkinlikle ilgili anket çalışmasının yapılması. Katılımcıların etkinlikle ilgili fikirlerini almak. Geleceğe yönelik çalışma planları konusunda genç araştırmacılara yol göstermek. | |||||
| DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Tipik bir polarize EDXRF spektrometresi bileşenleri (donanım, polarizasyon kavramının önemi ve yeni gelişmeler), yeni teknolojiler ve karşılaşılan spektrumların detaylı anlatımı (karakteristik X-ışınları, saçılma pikleri ve background’un (temel sayma)), TÜBİTAK BUTAL uygulama örnekleri | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-Işını Soğurma Spektroskopisi: EXAFS ve XANES; Microbeam XRF Spectrometry, Synchrotron radyasyonu ve XRF Uygulamaları; elektron indüklenmiş X-ışını emisyon spektrometresi |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: X-ışını kırınımının uygulamaları, örneğin hazırlanması, toz Kırınım deseninin alınması, difraktometre ölçümü ve desen indeksleme |
DETAYLI DERS İÇERİĞİ: SR SAXS demet hatlarının, Laboratuvar deney donanımlarından farkının vurgulanması, dinamik ölçümler için yan donanımların kullanımları ve avantajları, Farklı formda örnekler için setup yenileme ve kurulum çalışmaları, Üç farklı yöntem için uygun detektör sistemleri | DETAYLI DERS İÇERİĞİ: Katılımcıların beklentilerinin ne ölçüde karşılanabildiği üzerine sohbet. Katılımcıların etkinlik ve konu hakkındaki düşünce, görüş ve ileriye yönelik çalışma planları üzerine fikir alış verişi | |||||
Program:
